基本信息

书名:高速数字接口原理与测试指南

定价：79元

作者:李凯著

出版社：清华大学出版社

出版日期：2014-11-01

ISBN：9787302376118

字数：691000

页码：411

版次：

装帧：平装

开本：16开

商品重量：

内容提要

本书结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验，对高速数字信号的基本概念、测试原理进行讲解，同时结合现代计算机、移动设备、有线通信、航天设备里的高速数字接口，对其关键技术、测试方法等做详细介绍和总结，以便于读者理解和掌握高速数字接口的基本原理、实现技术、测试理念以及其发展趋势。本书主要分为两个部分： 上半部分是高速数字信号的基本概念和测量原理； 下半部分是常用高速数字接口总线的技术特点和测试方法。本书可供从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员了解学习高速数字总线的相关技术，也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。

作者介绍

李凯，毕业于北京理工大学光电工程系，硕士学位，曾在知名通信公司从事多年硬件研究。
2006
年加入安捷伦公司，负责高端示波器、逻辑分析仪、信号完整性分析等高速数字测试产品的应用和研究。对于通信、计算机等行业有深入认知，对信号完整性、嵌入式系统、高速总线、可编程逻辑、时钟、电源等电路的设计和测试有深刻理解。作为高速数字测试领域的专家，李凯利用业余时间撰写了大量关于高速信号测量原理、测量方法的文章并发布在《国外电子测量技术》、《电子工程专辑》等专业杂志以及
IEEE ICCP
、
EDI CON
等专业论坛大会上，同时在
EDN China
网站开设有个人技术博客。

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