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书名:DEM插值算法适应性理论与方法
定价:129.00元
作者:张锦明
出版社:电子工业出版社
出版日期:2020-05-01
ISBN:9787121376177
字数:
页码:328
版次:1
装帧:精装
开本:16开
商品重量:0.4kg
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内容提要
DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分,原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度是影响DEM精度的主要因素之一。插值算法作为其中的直接因素,地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此,从影响DEM插值精度的不同因素出发,研究DEM插值算法的适应性问题,对降低DEM插值的不确定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意义。本书围绕DEM插值参数、地貌类型适应性、采样数据分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。本书可以作为地图学与地理信息工程(系统)、环境科学与工程、地理学、地质学、作战环境学等地球科学领域的研究生或本科生的辅助教材,也可以作为测绘科学与技术、遥感科学、地理信息科学等相关领域研究人员的科研参考书。
目录
作者介绍
张锦明,浙江金华人,副教授,博士生导师。现主要从事虚拟现实/增强现实、虚拟地理环境、空间数据可视化等领域的教学与科研工作。获国家科技进步奖二等奖2 项,省部级一、二、三等奖10 项;出版著作7 部、教材2 部,发表学术论文30 余篇。
文摘
序言