:DEM插值算法适应性理论与方法

书名：DEM插值算法适应性理论与方法

定价：129.00元

作者：张锦明

出版社：电子工业出版社

出版日期：2020-05-01

ISBN：9787121376177

字数：

页码：328

版次：1

装帧：精装

开本：16开

商品重量：0.4kg

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内容提要

DEM精度研究是DEM研究体系的重要组成部分，原始数据精度、插值算法、地貌类型、采样数据分布特征和尺度是影响DEM精度的主要因素之一。插值算法作为其中的直接因素，地貌类型、采样数据分布特征和尺度等因素通过插值算法影响DEM精度。因此，从影响DEM插值精度的不同因素出发，研究DEM插值算法的适应性问题，对降低DEM插值的不确定性、提高DEM插值精度具有十分重要的意义。本书围绕DEM插值参数、地貌类型适应性、采样数据分布特征适应性、尺度适应性等问题展开了DEM插值算法适应性的研究和实践。本书可以作为地图学与地理信息工程（系统）、环境科学与工程、地理学、地质学、作战环境学等地球科学领域的研究生或本科生的辅助教材，也可以作为测绘科学与技术、遥感科学、地理信息科学等相关领域研究人员的科研参考书。

目录

作者介绍

张锦明，浙江金华人，副教授，博士生导师。现主要从事虚拟现实/增强现实、虚拟地理环境、空间数据可视化等领域的教学与科研工作。获国家科技进步奖二等奖2 项，省部级一、二、三等奖10 项；出版著作7 部、教材2 部，发表学术论文30 余篇。

文摘

序言